NiMH baterijos

Episkopinis apšvietimo mikroskopas

Prietaisas skirtas stipriai padidintam, plika akim neįžiūrimų objektų (arba jų struktūros detalių), vaizdui gauti.

D8Bruker Rentgeno spindulių diffraktometras

Įrenginys skirtas nedustruktyviai visų tipų medžiagų, miltelių bei plonų dangų bandinių analizei.

N2, O2, H2 kiekio analizatorius

Įrenginys skirtas matuoti azoto, deguonies ir vandenilio kiekį įvairiuose metaluose ir kitose neorganinėse medžiagose.

Bendros paskirties rusenančio išlydžio optinės emisijos spektrometras – GDS

Įrenginys skirtas kietų kūnų (metalų, lydinių ir kitų medžiagų) kokybinei ir kiekybinei elementinei analizei, įskaitant plonų dangų/sluoksnių sistemų su laidžiais ir nelaidžiais sluoksniais gylių profiliavimą.

XPS – Rentgeno spindulių fotoelektroninis spektroskopas

Įrenginys skirtas rentgeno spindulių fotoelektroninės spektroskopijos (XPS) metodu matuoti įvairių kietų medžiagų (įskaitant plonas dangas ir nano-miltelius) elementinę ir cheminę sudėtį (ryšius).

Auger elektronų spektroskopas

Įrenginys skirtas atlikti bandinių paviršių, nano-lygmens darinių, plonų dangų ir sąlyčio zonų elementinės bei cheminės būsenos analizę.

Episkopinis apšvietimo mikroskopas

Prietaisas skirtas stipriai padidintam, plika akim neįžiūrimų objektų (arba jų struktūros detalių), vaizdui gauti.

D8Bruker Rentgeno spindulių diffraktometras

Įrenginys skirtas nedustruktyviai visų tipų medžiagų, miltelių bei plonų dangų bandinių analizei.

N2, O2, H2 kiekio analizatorius

Įrenginys skirtas matuoti azoto, deguonies ir vandenilio kiekį įvairiuose metaluose ir kitose neorganinėse medžiagose.

Bendros paskirties rusenančio išlydžio optinės emisijos spektrometras – GDS

Įrenginys skirtas kietų kūnų (metalų, lydinių ir kitų medžiagų) kokybinei ir kiekybinei elementinei analizei, įskaitant plonų dangų/sluoksnių sistemų su laidžiais ir nelaidžiais sluoksniais gylių profiliavimą.

XPS – Rentgeno spindulių fotoelektroninis spektroskopas

Įrenginys skirtas rentgeno spindulių fotoelektroninės spektroskopijos (XPS) metodu matuoti įvairių kietų medžiagų (įskaitant plonas dangas ir nano-miltelius) elementinę ir cheminę sudėtį (ryšius).

Auger elektronų spektroskopas

Įrenginys skirtas atlikti bandinių paviršių, nano-lygmens darinių, plonų dangų ir sąlyčio zonų elementinės bei cheminės būsenos analizę.