Kintamo slėgio skenuojančiu elektroniniu mikroskopu galima analizuoti tiek laidžius, tiek ir dielektrinius bandinius. Taip pat su tam tikromis išlygomis galima analizuoti biologinius objektus. SEM skiriamoji geba prie 30 kV greitinančios įtampos 3 nm, tuo tarpu, esant 3 kV greitinančiai įtampai, pasiekiama 8-10 nm skyra. Vaizdus galime formuoti tiek antrinių, tiek ir atsispindėjusių elektronų detektoriais, taigi yra galimybė atskirai išryškinti bandinių reljefo, elementinės sudėties netolygumus, išgauti detalius pseudo 3D vaizdus.
